@inproceedings{Brunno2019SFDIb,
title = {Robustecimento/Endurecimento a radia\c{c}\~{a}o ionizante por t\'{e}cnicas de design de circuito em c\'{e}lula unit\'{a}ria de Circuitos Condicionadores de Sinais (ROICs)},
author = {Brunno Brendon Cortes Oliveira and Lester Abreu Faria},
url = {https://www.sige.ita.br/edicoes-anteriores/2019/st/ST_12_2.pdf},
year = {2019},
date = {2019-01-01},
booktitle = {Simp\'{o}sio de Aplica\c{c}\~{o}es Operacionais em \'{A}reas de Defesa 2019 (SIGE2019)},
abstract = {O trabalho proposto analisa e prop\~{o}e t\'{e}cnicas de mitiga\c{c}\~{a}o para os efeitos a radia\c{c}\~{a}o ionizante em uma c\'{e}lula unit\'{a}ria (pr\'{e}-amplificador) de um circuito condicionador de sinais (Readout Integrated Circuit \textendash ROIC) empregado em sensores de imagem multi-pixel (Focal Plane Array \textendash FPA). A topologia de ROIC escolhida foi a Source-Follower Direct Injection (SFDI) por possuir uma simples implementa\c{c}\~{a}o, boa linearidade, baixo consumo de pot\^{e}ncia e menor \'{a}rea ocupada. Uma vez conhecido os efeitos da radia\c{c}\~{a}o ionizante em componentes eletr\^{o}nicos, foram utilizados m\'{e}todos para a an\'{a}lise de pontos sens\'{i}veis do circuito e robustecimento dos mesmos atrav\'{e}s de modifica\c{c}\~{o}es na arquitetura do circuito em n\'{i}vel de projeto.},
keywords = {FPA, pr\'{e}-, radia\c{c}\~{a}o ionizante, ROIC, SFDI},
pubstate = {published},
tppubtype = {inproceedings}
}
O trabalho proposto analisa e propõe técnicas de mitigação para os efeitos a radiação ionizante em uma célula unitária (pré-amplificador) de um circuito condicionador de sinais (Readout Integrated Circuit – ROIC) empregado em sensores de imagem multi-pixel (Focal Plane Array – FPA). A topologia de ROIC escolhida foi a Source-Follower Direct Injection (SFDI) por possuir uma simples implementação, boa linearidade, baixo consumo de potência e menor área ocupada. Uma vez conhecido os efeitos da radiação ionizante em componentes eletrônicos, foram utilizados métodos para a análise de pontos sensíveis do circuito e robustecimento dos mesmos através de modificações na arquitetura do circuito em nível de projeto.
