@inproceedings{Fabr\'{i}cio2020qualifica\c{c}\~{a}ob,
title = {Testes N\~{a}o Destrutivos para Upscreening de Transistor com Qualifica\c{c}\~{a}o Militar e Fora do Prazo de Relifing},
author = {Fabr\'{i}cio Ribeiro Brand\~{a}o and Priscila Cust\'{o}dio Matos and Dhiego Marques Menezes Abrah\~{a}o},
url = {https://www.sige.ita.br/edicoes-anteriores/2020/st/ST_08_1.pdf},
year = {2020},
date = {2020-01-01},
booktitle = {Simp\'{o}sio de Aplica\c{c}\~{o}es Operacionais em \'{A}reas de Defesa 2020 (SIGE2020)},
abstract = {Este trabalho tem como objetivo apresentar a verifica\c{c}\~{a}o da possibilidade de uso espacial de um lote de 50 transistores JANTX2N2905A com qualifica\c{c}\~{a}o militar que n\~{a}o foi utilizado dentro do prazo para a sua montagem em placa eletr\^{o}nica. Para isso, em concord\^{a}ncia com normas espaciais estabelecidas, foi desenvolvida uma metodologia com a combina\c{c}\~{a}o entre os testes do procedimento de relifing, que verificam a confiabilidade de componentes eletr\^{o}nicos estocados por um longo per\'{i}odo, e os testes para a t\'{e}cnica de upscreening, utilizada para verificar a possibilidade da aplica\c{c}\~{a}o espacial de componentes eletr\^{o}nicos que n\~{a}o s\~{a}o formalmente qualificados para esta finalidade. Com isso, foram obtidos resultados satisfat\'{o}rios perante os testes n\~{a}o destrutivos realizados.},
keywords = {qualifica\c{c}\~{a}o, relifing, upscreening},
pubstate = {published},
tppubtype = {inproceedings}
}
Este trabalho tem como objetivo apresentar a verificação da possibilidade de uso espacial de um lote de 50 transistores JANTX2N2905A com qualificação militar que não foi utilizado dentro do prazo para a sua montagem em placa eletrônica. Para isso, em concordância com normas espaciais estabelecidas, foi desenvolvida uma metodologia com a combinação entre os testes do procedimento de relifing, que verificam a confiabilidade de componentes eletrônicos estocados por um longo período, e os testes para a técnica de upscreening, utilizada para verificar a possibilidade da aplicação espacial de componentes eletrônicos que não são formalmente qualificados para esta finalidade. Com isso, foram obtidos resultados satisfatórios perante os testes não destrutivos realizados.
